SPARK闪光highLIGHT 高分辨率平场XUV光谱仪

highLIGHT 高分辨率平场XUV光谱仪   在易用型平场校正光谱仪市场中,highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时,可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时,客户可以选择是否使用入射狭缝。   产品详情   德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制理想解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。   产品优势:   ● 平场掠入射光谱仪   ● 好的光谱分辨率   ●波长范围为1 ~ 100nm   ● 高效率无狭缝模式   在易用型平场校正光谱仪市场中,highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时,可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时,客户可以选择是否使用入射狭缝。   集成了狭缝架、滤波器插入装置、以及电...
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highLIGHT 高分辨率平场XUV光谱仪

  在易用型平场校正光谱仪市场中,highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时,可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时,客户可以选择是否使用入射狭缝。
 
产品详情

  德国HP Spectroscopy公司成立于2012年,致力于为全球科研及工业领域的客户定制理想解决方案,是科学仪器的全球供应商和领先开发商。产品线包括XAS系统,XUV/VUV/X-ray光谱仪,beamline产品等。主要团队由x射线、光谱、光栅设计、等离子体物理、beamline等领域的专家组成。并与全球领先的研究机构的科学家维持紧密合作,关注前沿技术,保持产品的迭代与创新。

  产品优势:

  ● 平场掠入射光谱仪

  ● 好的光谱分辨率

  ●波长范围为1 ~ 100nm

  ● 高效率无狭缝模式

  在易用型平场校正光谱仪市场中,highLIGHT具有较高的光谱分辨率。单次测量覆盖宽光谱范围的同时,可获得优于等于0.006nm的光谱分辨率。同时,客户可以选择是否使用入射狭缝。

  集成了狭缝架、滤波器插入装置、以及电动光栅定位设备的模块化设计特点,使其能够匹配不同的实验几何和构型。

  灵活完善的探测器选项:

  用于高分辨率和高动态范围的XUV CCD相机

  用于最宽波长覆盖和门控以及增强探测的MCP/CMOS检测器。

  无狭缝设计

  HPS公司专有的光谱仪设计使用光源直接成像技术。 因此,不需要狭窄的入口狭缝,并且可以最大程度地收集入射光束。 与传统的光谱仪相比,到达探测器的光强会高出20倍。该结构还极大地提高了日常操作的稳定性。

 

  测量结果

  利用highLIGHT XUV获得的倍频掺镱光纤激光系统(334kHz, 90uJ,<300fs)的第9次谐波和第11次谐波光谱。谐波带宽为约20 meV(半高全宽),对应的相对能量带宽为ΔE/E = 7.5E-4。

  V. Hilbert 等人,紧凑、交钥匙、窄带宽、可调谐、高光子通量极紫外光源。

  通过在超过一个驱动激光周期的延迟范围内改变驱动脉冲对的延迟来调谐 1030nm 驱动激光器的 19 次谐波的 highLIGHT XUV 光谱。白色十字代表驱动复合脉冲的中心光子能量乘以谐波次数19。

  V. Schuster 等人,高次谐波的敏捷频谱调谐通过两个驱动脉冲的干扰。

  用highLIGHT SXR+在2.88nm(430eV,对应1s2-1s2p跃迁)处获得的氮谱线的发射谱测量结果。谱线的半高全宽是对应1.7个CCD像元尺寸(13μm像元),对应分辨能力为1890。该探测器的极限分辨能力可达3290。

  数据由哥廷根激光实验室 K. Mann 博士提供。

  技术参数:

  典型应用:

  ●高次谐波产生源;

  ● 阿秒科学

  ● 强激光与物质相互作用

  ● 自由电子激光器

  ● 激光与放电产生的等离子体源

 

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