SPARKEOS闪光纳秒瞬态吸收光谱仪UV-VIS
SPARKEOS闪光纳秒瞬态吸收光谱仪UV-VIS
产品详情
宽带泵浦探针纳秒瞬态吸收光谱仪,可以匹配各种脉冲激光器。作为一个完整的交钥匙系统,EOS是一款易于调整时间窗口的瞬态光谱测量系统,并拥有亚纳秒的时间分辨率。EOS纳秒瞬态光谱仪可以与HELIOS集成使用,将其扩展为飞秒瞬态吸收光谱仪。
系统特点:
- 为瞬态吸收优化的光谱分辨率
对于瞬态吸收,由于信号较弱,想要在整个谱段得到更好信噪比的光谱特征需要有更好的光通量。而光谱仪狭缝的选择需要在光通量和光谱分辨率之间找到平衡。因此,我们将光谱分辨率配置为足以解决凝聚相实验中的实际问题,同时允许探测器上有足够的探测光。
光谱范围 |
固有光谱分辨率 |
200um狭缝光谱分辨率(推荐) |
UV-VIS |
2nm |
4nm |
NIR |
5nm |
13nm |
SWIR |
5nm |
13nm |
- 更低的探测光及泵浦光作用在样品上
Ultrafast的瞬态光谱系统将探测光探针聚得更小,尽可减少了聚焦在样品上的激光能量,降低在测量时对样品的降解。这对于固态样品(薄膜等)尤其重要。尤其是那些在实验过程中无法轻易转换的样品。在标准配置中,样品中的EOS探针光束腰<100µm。因此,所需的典型激发能量为数百nJ/脉冲。此外,这种光束尺寸允许研究小样本。
- 样品架
宽敞的(210毫米x 300毫米)样品舱便于安装低温恒温器和温控样品架。此外,在样本周围有更多的空间,就可以更容易地处理样本。
同时,EOS提供了非常友好的软件功能,让复杂的测量变得更智能,更自动化:
- 自动校正泵浦光
- 计算机控制切换光谱范围(UV/VIS/NIR/SWIR)
- 支持计算机控制平移样品支架
- 支持根据光强自动切换滤光片轮,实现自动泵浦光强度控制
- 用户可在软件中自定义时间步长,时间窗口及扫描步数
- 绘制实时直方图,以显示时间窗口内的采样分布
- 内置用于在整个时间窗口内自动均衡采样分布的算法
座机:0755-84670052 0755-83317701
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